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MSA

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发表于 2012-10-23 13:47:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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计量型数据设备(带百分表的深度规检具)变差大的原因都是有哪些
发表于 2012-12-31 13:59:31 | 显示全部楼层
楼主能细化点问题吗?
发表于 2013-4-17 18:20:15 | 显示全部楼层
不知附图能否回答你的问题!
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发表于 2013-4-17 18:20:53 | 显示全部楼层
测量系统变异的影响
                由于测量系统可以受多种变差源的影响,因此相同零件的
        重复读数也不产生相同或同样的结果。读数之间不相同是由于
        普通和特殊原因造成。

                不同的变差源对测量系统的影响应经过短期和长期评估。
        测量系统的能力是短期时间的测量系统(随机)误差。它是
        由线性能,如同过程性能,是所有变差源随时间的影响。这是
        通过确定我们的过程是否统计受控(如,稳定并且一致;变差
        仅由普通原因造成),对准目标(无偏倚),且在预期结果的范
        围有可接受的变差(量具重复性和再现性(GRR))来完成的。
        这为测量系统能力增加稳定性和一致性。
       

                由于测量系统的输出值用于做出关于产品和过程的决
                定,所有变差源的累积影响通常为测量系统误差,或有时
                称为“误差”。
发表于 2013-4-26 02:29:06 | 显示全部楼层
不知道以上的解释楼主可满意,也没见回复了
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