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发表于 2015-10-26 17:18:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

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再论Cpk与Cp

传统上品管使用正负3 SIGMA﹝标准偏差﹞，它是假设量产产品的质量特性值遵守常﹝正﹞态分配，而中心值加减 3 SIGMA的界线，一般称之为管制上限和管制下限，产品质量特性值出现在管制上下限内的机率值为99.73%，这个部分构成质量管理中所谓统计制程管制─SPC的主体。

当我们要使用到Cpk或Cp或PPM时，要记住一个先决条件，就是它只适用于计量值类质量特性值→追求的结果可用量测器量测取得连续性的数据。意指如果你有一个质量特性值﹝尺寸﹞其要求的规格是10.0 ± 0.3 m/m﹝M ± Δ﹞，使用一般尺量测某一个产品的尺寸得到10.2 m/m这样一个数据，当使用更精密的光标卡尺，你可能得到10.23m/m这样的数据，而非计量值质量特性值只能以完整的个数来表示，例如没有人会说0.5个好苹果。
因此，计算制程能力指数Cp或Cpk时，你得先有计量值类质量特性值的规格值，然后对产制的产品特性值进行量测，利用量测的数据进行公式的计算。公式见后。

Cp→Capability of process，传统品管使用的，最早推行SPC时是假设产制结果的中心值会和规格中心值相一致，而且即便产制后量测的中心值若偏离规格中心值，要将制程产出的中心调整回规格中心值，就操作人员的技术来说并不困难，因此并未考虑到中心值的问题。推行SPC的原意，是利用求得SPC的管制上下限后，由现场生产制造人员按时侦测制程当时状况，一发现中心值偏移大时，立刻追查原因修正使制程中心值回到规格中心值。
Cpk→带有中心值修正项的Cp，但随着分工日渐细腻，将制造人员的质量责任抽离，转而由品管人员承担，久而久之制造部门的主管不再重视质量责任，只管量的产出，最后的结果就是现在这种状态，一般人谈论质量偏重于外观之类的计数值特性，只使用%的不良率计算。追求华丽漂亮的外观，但产品应有的功能、特性却不如产品广告所宣传的。随着科技的进步，大量运用电子产品，导致对质量特性值精确的要求，以期使产品能有如设计般所欲达成的表现，因此发现了中心值的问题，导致Cp必须修正，遂产生了Cpk。

而随着电子时代的来临，一个产品里往往使用大量的电子组件，譬如一颗IC可能等于数以千计的晶体管，传统上以 ±3 sigma→机率值99.73%来进行质量管理显得不够用，美国的Motorola最先发现这个窘境，因而提出 6 sigma管理，意指以±6 sigma取代传统 ±3 sigma，细节请查本网站『品管知识』中PPM不是梦─89.07，有机率值的说明。从而将质量不良率的计算由以%为主的方式，推升到以PPM为主。

当各位实际计算Cpk或Cp之后，会发现Cpk或Cp只是结果的表示，你遭遇到的难题将不再是如何计算Cpk或Cp的值，而是如何将计算出来很难看的Cpk或Cp数值，设法改善加以提升到客户要求的水平，目前业界常用或QS9000规定的是Cpk≧1.67，也就是说真正的困难，将会发生在Cpk的计算之后，那才是公司整个技术人员的考验和挑战的开始。如果你的工作责任仅止于将Cpk计算出来，那恭喜你！读完本篇内容你应该已经会了。但如果你的工作责任不是只有计算出Cpk还肩负着将Cpk提升的责任，你应该进一步去吸收知识了